紅外非線性晶體/ZnGeP2/AgGaSe2/GaSe/ZnTe 本產(chǎn)品由于具有*的功能，ZnGeP2、 AgGaSe2、AgGaS2、 GaSe 和 ZnTe作為光學(xué)非線性晶體，在中紅外和遠(yuǎn)紅外應(yīng)用方面已經(jīng)贏得了人們極大的興趣。它們的應(yīng)用包括：中紅外波段OPO，近、中紅外波段頻率轉(zhuǎn)換，CO2 激光倍頻，THz生成。紅外非線性晶體 具有大的有效光學(xué)非線性，寬的光譜和角度接收范圍，透光范圍寬，對(duì)溫度穩(wěn)定性和振動(dòng)控制沒(méi)有苛刻的要求，可以進(jìn)行良好的機(jī)械加工（ GaSe除外）。其它晶體有 : CdSe, CdS, CdZnTe, CdTe, ZnSe,ZnS

1、AgGaS2 硫鎵銀晶體

AgGaS2簡(jiǎn)稱(chēng)AGS晶體,中文名是硫鎵銀晶體,他的透光波段為0.53至12 µm。雖然其非線性光學(xué)系數(shù)在上述提到的紅外晶體中是最小的，但是其邊緣為550 nm短波長(zhǎng)高透光度被用于Nd:YAG激光泵浦的OPO，也被大量應(yīng)用于利用二極管、摻鈦藍(lán)寶石、Nd:YAG和紅外燃料激光器進(jìn)行的差頻混頻實(shí)驗(yàn)，直接紅外對(duì)抗系統(tǒng)，以及CO2激光倍頻。通過(guò)信號(hào)和飛秒OPO系統(tǒng)駐波的差頻，硫鎵銀晶體薄片在中紅外波段超短脈沖發(fā)生方面用的很普遍。

14 mm長(zhǎng)鍍?cè)鐾改ず陀糜诒籒d:YAG激光泵浦的OPO的AgGaS2晶體的透過(guò)光譜

AgGaS2晶體1型 OPO 和SHG調(diào)諧曲線

2、ZnGeP2晶體(簡(jiǎn)稱(chēng)ZGP晶體),磷鍺鋅晶體

ZnGeP2磷鍺鋅晶體的透光波段為0.74至12 µm，其中有用的透光范圍從1.9至10.6 µm。 ZnGeP2擁有最大的非線性光學(xué)系數(shù)和較高的激光損傷閾值。它成功地應(yīng)用于以下應(yīng)用領(lǐng)域：

■ 通過(guò)與10.6 µm 波長(zhǎng)混頻的 CO2激光的上轉(zhuǎn)換；

■ CO和 CO2 激光輻射的和頻；

■ 脈沖式CO、CO2 和DF化學(xué)激光的高效倍頻；餌和鈥激光泵浦時(shí)的中紅外OPO光的發(fā)生。

E K S M A 光 學(xué) 提 供 具 有 低 吸 收<0.04 cm-1 @ 2.1 µm的ZnGeP2 晶體，更好的適應(yīng)OPO或OPA應(yīng)用，然后泵浦2.05-2.1 µm，鍍?cè)鐾改ぁ?/p>

ZnGeP2晶體1型OPO和SHG調(diào)諧曲線

ZnGeP2晶體在2 µm附近的吸收光譜

15 mm長(zhǎng)鍍?cè)鐾改nGeP2晶體OPO@2.1 µm 的透過(guò)光譜

3、AgGaSe2 硒鎵銀晶體

AgGaSe2硒鎵銀晶體晶體的透光波段在0.73至18 µm波段之間。其有用透光范圍0.9-16 µm及寬的相匹配能力，在被多種當(dāng)前常用激光泵浦時(shí)，能為OPO應(yīng)用提供具潛力的應(yīng)用。在2.05 µm的Ho:YLF激光泵浦下，已經(jīng)獲得2.5-12 µm的波長(zhǎng)，以及在1.4-1.55 µm激光泵浦下，獲得1.9-5.5 µm的非臨界相位匹配操作。脈沖式CO2激光的高效倍頻已經(jīng)得到證明。

AgGaSe2晶體1型OPO和SHG調(diào)諧曲線

18 mm長(zhǎng)無(wú)鍍膜AgGaSe2晶體的透過(guò)光譜

25 mm長(zhǎng)鍍?cè)鐾改さ腁gGaSe2晶體的透過(guò)光譜

4、GaSe硒化鎵

GaSe 硒化鎵晶體 的 透 光 波 長(zhǎng) 在 0 . 6 5 至18 µm之間. GaSe晶體已經(jīng)成功的應(yīng)用于以下方面：CO2 激光的高效倍頻，脈沖式CO、CO2和DF化學(xué) 激光(λ = 2.36 µm)倍頻，CO和CO2激光向可見(jiàn)光的上轉(zhuǎn)換，通過(guò)釹和紅外燃料激光器或(F-)-centre激光脈沖的差頻混頻產(chǎn)生紅外脈沖，3.5–18 µm范圍內(nèi) OPG光的發(fā)生，飛秒脈沖泵浦時(shí)0.2-5 THz范圍的高效太赫茲發(fā)生。由于材料結(jié)構(gòu)(沿(001)平面切開(kāi))限制了應(yīng)用領(lǐng)域，為了得到特定相位匹配角的晶體切割是不可能的。

物理特性：

光學(xué)特性：

非線性光學(xué)特性：

熱學(xué)特性：

@ 293-573 K, b) @ 573-873 K, c) @ 298-423 K, d) @ 423-873 K

計(jì)算折射率的SELLMEIER方程:

可以根據(jù)客戶(hù)要求提供的其它晶體有： CdSe, CdS, CdZnTe, CdTe, ZnSe, ZnS

ZnTe/碲化鋅:

碲化鋅晶體在<110>方向被用于通過(guò)光整流過(guò)程來(lái)產(chǎn)生太赫茲。光整流效應(yīng)是晶體的二階非線性光學(xué)效應(yīng)，也是一種特殊的差頻效應(yīng)。對(duì)于有一定帶寬的飛秒激光脈沖，不同的頻率分相互作用產(chǎn)生從0到幾太赫茲的帶寬。太赫茲脈沖的整流是通過(guò)碲化鋅晶體另一個(gè)<110>方向內(nèi)自由空間電光整流產(chǎn)生的。太赫茲脈沖和可見(jiàn)光脈沖在碲化鋅晶體內(nèi)直線傳播時(shí)，太赫茲脈沖在碲化鋅晶體內(nèi)產(chǎn)生雙折射，這一現(xiàn)象被線偏振可見(jiàn)光脈沖讀出。當(dāng)可見(jiàn)光脈沖和太赫茲脈沖同時(shí)在同一晶體內(nèi)傳播時(shí)，可見(jiàn)偏振光在太赫茲脈沖作用下產(chǎn)生旋光，用一個(gè)λ/4波片和一個(gè)分束偏振器以及一組平衡光電二極管，通過(guò)監(jiān)控可見(jiàn)光脈沖從碲化鋅晶體出射后的偏振旋轉(zhuǎn)相對(duì)于太赫茲脈沖的一組延遲時(shí)間，就可以監(jiān)測(cè)太赫茲脈沖的振幅軌跡。能夠讀出完整的電場(chǎng)、振幅和延遲，是時(shí)域太赫茲光譜的魅力之一。

碲化鋅也被用于紅外光學(xué)元件基板和真空沉積。我們可提供尺寸為?40x30 mm的光學(xué)元件。

注意： 碲化鋅含有微氣泡，這并不影太赫茲的產(chǎn)生，然而，它們?cè)诰w被照明時(shí)的投影下是可見(jiàn)的。我們不接受關(guān)于晶體內(nèi)有氣泡的投訴。

如何訂購(gòu)：ZnGeP2 (ZGP) Crystals

AgGaS2 (AGS) Crystals

AgGaS2 crystals are provided mounted into 25.4 mm diameter ring holder.

關(guān)于質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室:

Terahertzlabs光學(xué)的質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室通過(guò)使用高度專(zhuān)業(yè)化的設(shè)備和工藝，能夠?yàn)榭蛻?hù)提供高質(zhì)量的精密光學(xué)元件。質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室配備了防振光學(xué)平臺(tái)、層流罩和超聲波清洗機(jī)，此外還配備了一系列高精度的測(cè)量設(shè)備來(lái)進(jìn)行各種各樣的測(cè)試。

光學(xué)測(cè)試:

1, Genesys-2 分光光度計(jì)：用于200-1100 nm波段透過(guò)率的精密測(cè)量；

2, EKSPLA laser spectrophotometer – 用于210-2300 nm波段透過(guò)率和反射率的精密測(cè)量，激光光  束直徑<1 mm；

3,  ESDI Intellium Z100 Fizeau Interferometer – 用633 nm波長(zhǎng)測(cè)量面形和透過(guò)波前畸變的計(jì)算機(jī)控制科學(xué)干涉儀，標(biāo)準(zhǔn)具精度lambda/20；

4,EKSPLA NL220 laser - Nd:YAG激光器，工作波長(zhǎng)1064、532、355和266 nm，用于晶體角切精度測(cè)量、晶體效率和方向性測(cè)試；

5,Moeller-Wedel Optical Elcomat vario140/40 Autocollimator；

6,G-5 Ganiometers – 用于測(cè)量棱鏡和楔角片角度，以及平面光學(xué)元件

的平行度和塔差；

7, Nikon Microscopes - 56-400倍放大顯微鏡，帶CCD相機(jī)，用于表面質(zhì)

量檢測(cè)；

8,Trioptics Super-Spherotronic HR Spherometer；

實(shí)驗(yàn)室能力:

光學(xué)實(shí)驗(yàn)室具有如下能力：

1,光學(xué)和幾何參數(shù)測(cè)量，如焦距、折射率、曲率半徑、角度和塔差，用于波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換（二、三次倍頻）的光軸方向測(cè)量；

2,表面質(zhì)量測(cè)量，按照MIL、ISO或DIN標(biāo)準(zhǔn)；

3, 平面度測(cè)量：波前畸變（反射和透過(guò)光束）；

4, 棱鏡和楔角片角度測(cè)量，平面元件的平行度測(cè)量；

5,材 料 和 薄 膜 鍍 膜 光 譜 測(cè) 量 ， 和 /或 角 反 射 和 透 過(guò) 率 測(cè) 量 （ 2 0 0 -2300 nm）；

6, 用ZEMAX軟件進(jìn)行光學(xué)設(shè)計(jì)。

關(guān)于晶體選擇列表僅供客戶(hù)參考: